Оптический векторный анализатор‎ LUNA OVA серии 5100

OVA 5100 — это идеальное устройство для однокомпонентной полнопараметрической характеризации волоконно-оптических компонентов — от соединителей до специального волокна и всего, что между ними (волоконные брэгговские решетки, решетки волноводов, фильтры свободного пространства, настраиваемые устройства, усилители и т. д.), — и все это с помощью одного взмаха настраиваемого лазера.

Выполнение полнопараметрической характеристики фотонных устройств за одно сканирование


При одном сканировании OVA 5100 одновременно измеряет полную передаточную функцию фотонных компонентов. Этот экран показывает IL и групповую задержку в зависимости от длины волны.

Основные характеристики

• Одно измерение, всепараметрический анализ компонентов
• Полная характеристика пассивных устройств менее чем за 3 секунды
• Полный поляризационный отклик
• С одним сканированием одновременно измеряйте:
  - Вносимые потери (IL)
  - Поляризационно-зависимые потери (PDL)
  - Дисперсию поляризационной моды (PMD) и PMD второго порядка
  - Хроматическая дисперсия (CD)
  - Групповая задержка (GD)
  - Оптический временной отклик
  - Элементы матрицы Джонса
  - Оптический фазовый отклик
• Возможность высокого разрешения C и L диапазона (OVA 5100) или O диапазона (OVA 5113)
• Измерения в реальном времени
• Удобный интерфейс

Применения

• Анализировать планарные световые схемы и кремниевые фотонные устройства
• Характеризовать компоненты оптического волокна
• Измерять как спектральный отклик, так и отклик временной задержки
• Улучшать моделирование устройств и модели с полной передаточной функцией

Полная характеристика за одно сканирование

OVA 5100 полностью анализирует оптические свойства интегрированных фотонных устройств и подсистем, обеспечивая комплексную характеристику с помощью одного сканирования и одного соединения. OVA 5100 использует интерферометрический метод для прямого измерения линейной передаточной функции (матрицы Джонса) и одновременного измерения ее четырех комплексных элементов на каждой длине волны. Из этих данных все стандартные линейные измерения параметров, включая IL, RL, GD, CD, PMD и PDL, могут быть извлечены с наивысшим доступным динамическим диапазоном и точностью.


Результатом является чрезвычайно быстрая, высокоточная и высокоточная характеристика устройств, которая идеально подходит для кремниевой фотоники и других интегральных фотонных устройств.

Рефлектометрия высокого разрешения "без мертвой зоны"


OVA 5100 также может работать как рефлектометр высокого разрешения с опцией оптического частотного рефлектометра (OFDR). OVA 5100 с опцией OFDR обеспечивает измерения рефлектометра с разрешением выборки 20 мкм, «нулевой мертвой зоной» и высокой чувствительностью (>95 дБ). С этой опцией вы можете легко «заглянуть внутрь» миниатюрных фотонных устройств и различать отражательные события и примеси в масштабе, который обычно возникает внутри волновода.

Полный анализ поляризации


С дополнительным программным обеспечением для анализа поляризации OVA 5100 может измерять, рассчитывать и отображать реакцию оптического компонента на моделируемые входные состояния поляризации, устраняя утомительную и сложную задачу выравнивания поляризации. Программное обеспечение отображает вносимые потери, групповую задержку и импульсную реакцию на определяемое пользователем входное состояние поляризации. Простые в использовании ползунки позволяют пользователю настраивать моделируемую входную поляризацию на любое желаемое состояние. Программное обеспечение для анализа также строит графики минимальных и максимальных вносимых потерь, групповой задержки и хроматической дисперсии основных состояний поляризации (PSP), а также усредненные величины поляризации (IL, GD, CD и т. д.), PMD, PDL, элементы матрицы Джонса и информацию о временной области.

Информация для заказа

Номер по каталогу	Описание	Включает
OVA 5100	Оптический векторный анализатор, 1525 нм - 1610 нм	OVA 5100 базовый блок для C и L диапазонов, программное обеспечение OVA, контроллер прибора (ноутбук или настольный ПК класса рабочей станции) и набор принадлежностей.
OVA 5113	Оптический векторный анализатор, 1270 нм - 1340 нм	OVA 5100 базовый блок для O диапазона, программное обеспечение OVA, контроллер прибора (ноутбук или настольный ПК класса рабочей станции) и набор принадлежностей.
OPT02003	Программное обеспечение для настольного анализа	Программное обеспечение, обеспечивающее весь анализ и визуализацию данных OVA 5100, используя только сохраненные файлы данных измерений OVA.
OPT02004	Опция OFDR	Программное обеспечение оптического частотного рефлектометра (OFDR) для выполнения измерений рефлектометрии с высоким разрешением.
OPT02005	Программное обеспечение для анализа поляризации	Анализирует реакцию на моделируемые входные состояния поляризации.
OPT02006	Расширенный динамический диапазон	Обеспечивает расширенный динамический диапазон (см. таблицу производительности).
OPT02007	Набор инструментов для разработки ПО	SDK для разработки пользовательского ПО с библиотеками DLL, позволяющими разрабатывать пользовательский графический интерфейс.